Infrasarkanā mikroskopa pielietojums mikroierīcēs elektroniskajā rūpniecībā
Pielietojuma virziens: infrasarkanā mikroskopa funkcija mikro pusvadītāju ierīču temperatūras mērīšanā.
Otrkārt, fons:
Attīstoties nanotehnoloģijai, pusvadītāju tehnoloģiju jomā arvien vairāk tiek izmantota tās miniaturizācija no augšas uz leju. IC tehnoloģiju mēdzām dēvēt par "mikroelektronikas" tehnoloģiju, jo tranzistoru izmēri ir mikronu (10-6 metru) līmenī. Tomēr pusvadītāju tehnoloģija attīstās ļoti strauji, un ik pēc diviem gadiem tā progresēs par vienu paaudzi, un tās izmērs tiks samazināts uz pusi no sākotnējā izmēra. Šis ir slavenais Mūra likums. Apmēram pirms 15 gadiem pusvadītāji sāka ienākt submikronu laikmetā, tas ir, mazāk par mikronu, un tad bija dziļu submikronu laikmets un daudz mazāks par mikronu. Līdz 2001 tranzistora izmērs bija pat mazāks par 0,1 mikronu, tas ir, mazāks par 100 nanometriem. Tāpēc šis ir nanoelektronikas laikmets, un lielākā daļa nākotnes IC tiks izgatavota no nanotehnoloģijas.
Treškārt, tehniskās prasības:
Pašlaik galvenā elektronisko ierīču atteices forma ir termiskā kļūme. Saskaņā ar statistiku, 55 procenti elektronisko ierīču kļūmju izraisa temperatūras pārsniegšana noteiktajā vērtībā. Paaugstinoties temperatūrai, elektronisko ierīču atteices līmenis palielinās eksponenciāli. Vispārīgi runājot, elektronisko komponentu darba uzticamība ir ārkārtīgi jutīga pret temperatūru, un uzticamība samazināsies par 5 procentiem, katru reizi palielinot ierīces temperatūru par 1 grādu 70-80 grādu līmenī. Tāpēc ir nepieciešams ātri un droši noteikt ierīces temperatūru. Tā kā pusvadītāju ierīču izmēri kļūst arvien mazāki, tiek izvirzītas augstākas prasības detektoru temperatūras izšķirtspējai un telpiskajai izšķirtspējai.
Ceturtkārt, uz vietas uzņemiet siltuma karti (atrašanās vieta: labi zināms zinātniskās pētniecības institūta modelis: INNOMETE SI330)
