Vai magnētiskajam mērījumam ir liela ietekme uz pārklājuma biezuma mērītāju?
Pārklājuma biezuma mērierīces mērījumus ietekmē vairāki faktori. Ar magnētisko metodi mērīto biezumu ietekmē pamatnes metāla īpašību izmaiņas (praktiskajā pielietojumā zema oglekļa tērauda magnētisko īpašību izmaiņas var uzskatīt par nelielām). Standarta lapu izmanto instrumenta kalibrēšanai; parastā metāla vadītspēja ietekmē mērījumus, un parastā metāla vadītspēja ir saistīta ar tā materiāla sastāvu un termiskās apstrādes metodi.
Kalibrējiet instrumentu, izmantojot standarta loksni ar tādām pašām īpašībām kā testa parauga parastajam metālam; katram instrumentam ir kritiskais biezums, kas ir lielāks par šo biezumu, mērījumu neietekmēs parastā metāla biezums; tas ir jutīgs pret pēkšņām testa parauga virsmas formas izmaiņām, tādēļ nav ticami mērīt testa parauga malas vai iekšējā stūra tuvumā; testa parauga izliekumam ir ietekme uz mērījumu, kas ievērojami palielinās līdz ar izliekuma rādiusa samazināšanos, tāpēc mērījums uz izliektā parauga virsmas ir arī neuzticams. Zonde deformēs mīksto pārklājuma paraugus, tāpēc uz šiem paraugiem var izmērīt ticamus datus; parastā metāla un pārklājuma virsmas raupjums ietekmē mērījumu. Palielinoties nelīdzenumam, palielinās trieciens, un raupja virsma radīs sistemātiskas kļūdas un nejaušas kļūdas. Mērot katru reizi, mērījumu skaits ir jāpalielina dažādās pozīcijās, lai novērstu šo nejaušo kļūdu. Ja parastais metāls uz pamatnes ir raupjš, uz nepārklāta parastā metāla testa parauga ir jāieņem vairākas pozīcijas ar līdzīgu raupjumu, lai kalibrētu instrumenta nulles punktu, vai šķīdināšanai izmantojiet šķīdumu, kas nerūsē parasto metālu. un noņemiet pārklājumu un pēc tam kalibrējiet instrumentu. Nulles punkts; spēcīgais magnētiskais lauks, ko rada dažādas apkārtējās elektriskās iekārtas, nopietni traucēs magnētiskā biezuma mērīšanas darbu; tām pievienotajām vielām, kas neļauj zondei nonākt ciešā saskarē ar pārklājuma virsmu, mērījuma laikā jāsaglabā nemainīgs spiediens, zondei un testa paraugam Virsma paliek vertikāla, lai veiktu mērījumu.
