Skenējošās zondes mikroskopu īpašības
Skenējošās zondes mikroskopija ir trešais mikroskops vielas struktūras novērošanai atomu mērogā pēc lauka jonu mikroskopijas un augstas izšķirtspējas transmisijas elektronu mikroskopijas. Kā piemēru ņemot skenēšanas tunelēšanas mikroskopu (STM), tā sānu izšķirtspēja ir 0,1~0,2 nm, un tā vertikālā dziļuma izšķirtspēja ir 0,01 nm. Šāda izšķirtspēja var skaidri novērot atsevišķus atomus vai molekulas, kas sadalītas uz parauga virsmas. Tajā pašā laikā skenēšanas zondes mikroskops var arī veikt novērošanas pētījumus gaisā, citās gāzēs vai šķidrā vidē.
Skenējošās zondes mikroskopiem piemīt atomu izšķirtspējas, atomu transportēšanas un nanomikroapstrādes īpašības. Tomēr dažādu skenējošo mikroskopu darba principu atšķirīgo detaļu dēļ informācija par parauga virsmu, ko atspoguļo to iegūtie rezultāti, ir ļoti atšķirīga. Skenējošā tunelēšanas mikroskopija mēra elektronu staciju sadalījuma informāciju parauga virsmā, kurai ir atomu līmeņa izšķirtspēja, bet joprojām nevar iegūt parauga patieso struktūru. Atomu mikroskops nosaka mijiedarbības informāciju starp atomiem, tādējādi var iegūt informāciju par atomu sadalījumu parauga virsmā, tas ir, reālo parauga struktūru. Bet, no otras puses, atomu spēka mikroskops nevar izmērīt elektronisko stāvokļa informāciju, ko var salīdzināt ar teoriju, tāpēc abiem ir savas priekšrocības un trūkumi.
