Ievads metalogrāfiskā mikroskopa piemērošanā dažādās nozarēs
Sākotnēji tas ir iegūts no metalogrāfijas, tā galvenais mērķis ir profesionāls instruments metalogrāfisko struktūru novērošanai. Tas ir mikroskops, kas īpaši paredzēts necaurspīdīgu objektu, piemēram, metālu un minerālu, metalogrāfisko struktūru novērošanai. Šos necaurspīdīgos objektus nevar novērot parastajā transmisijas gaismas mikroskopā, tāpēc galvenā atšķirība starp zeltu un parasto mikroskopu ir tā, ka pirmo apgaismo atstarota gaisma, bet pēdējo apgaismo pārraidītā gaisma.
Metalogrāfiskajiem mikroskopiem ir labas stabilitātes, skaidras attēlveidošanas, augstas izšķirtspējas un liela un plakanas redzamības lauka īpašības. Tas var ne tikai veikt mikroskopiskus novērojumus okulārā, bet arī novērot reālā laika dinamiskos attēlus datorā (digitālā kamera) displeja ekrānā un var rediģēt, saglabāt un izdrukāt nepieciešamos attēlus. To galvenokārt izmanto aparatūrā, sagriešanā, IC komponentos, LCD/LED un citos laukos.
Tā kā ir pieci metalogrāfiskā mikroskopa objektīvu veidi: EPI spilgtā lauka fluorescence; BD gaišs un tumšs lauks; Slwd ultra ilgs darba attālums; Elwd stiprina darba attālumu; Aprīkots ar korekcijas gredzenu. Aparatūras nozarē var novērot dažus aparatūras komponentus ar smagu refleksiju, izmantojot BD objektīvus ar spilgtiem un tumšiem laukiem. Piemēram, LCD nozarē, novērojot un mērot vadītspējīgas daļiņas, metalogrāfisko mikroskopu var arī savienot pārī ar DIC, lai objekts izskatās trīsdimensiju. Tā kā tas ir polarizēts, mikroskopiska novērošanas paņēmiens, kas izmanto divus krāsu filtru komplektus, lai veidotu polarizētu gaismu. Balstoties uz tā divkāršo īpašībām, var mainīt optiskā ceļa virzienu. Protams, polarizētu gaismu var izmantot tikai kopā ar DIC, un tai ir maza nozīme pati par sevi. Metalogrāfisko mikroskopu izmanto mazu izmēru mērīšanai un analīzei, piemēram, IC komponentiem un metalogrāfiskajām sekcijām. To var izmērīt, izmantojot inteliģentu programmatūru IView Sims, kurai ir augsta precizitāte un efektīvi samazina cilvēka mērījumu kļūdas. Viegli apgūstams un lietojams, tas var viegli izmērīt un analizēt atbilstošās dimensijas, piemēram, punktus, līnijas, loka, daļēji meridiānus, taisni meridiānus, leņķus utt., Viegli uzņemt mērījumu attēlus un pielāgot dažādus testa pārskatus
