metalogrāfiskā mikroskopa regulēšanas metode,
Metalogrāfiskais mikroskops ir ideāla optiskā mikroskopa tehnoloģijas, fotoelektriskās konversijas tehnoloģijas un datora attēlu apstrādes tehnoloģijas kombinācija, lai attīstītos par augsto tehnoloģiju produktu, kas var viegli novērot metalogrāfiskos attēlus ar datoriem, un metalogrāfiskos atlantus, vērtējumus, izvades grafiku, drukāšanu utt. Kā mēs visi zinām, sakausējuma sastāvs, termiskā apstrāde...
Metalogrāfiskais mikroskops ir ideāla optiskā mikroskopa tehnoloģijas, fotoelektriskās konversijas tehnoloģijas un datoru attēlu apstrādes tehnoloģijas kombinācija, lai attīstītos par augsto tehnoloģiju produktu, kas var viegli novērot metalogrāfiskos attēlus ar datoriem, un metalogrāfiskos atlantus, vērtējumus, izvades grafiku, drukāšanu utt. Kā mēs visi zinām, sakausējuma sastāvs, termiskā apstrāde un karstās un aukstās apstrādes tehnoloģija tieši ietekmē metāla materiāla iekšējās mehānisma struktūras izmaiņas, tādējādi mainās detaļas mehāniskās īpašības. Līdz ar to ir kļuvis par nozīmīgu rūpnieciskās ražošanas līdzekli, lai novērotu un pārbaudītu metāla iekšējo mehānismu struktūru, analizējot metalogrāfisko mikroskopu. Tātad, kāda ir metalogrāfiskā mikroskopa regulēšanas un lietošanas metode? Nākamais redaktors jūs iepazīstinās ar to.
Metalogrāfiskā mikroskopa regulēšanas metode:
1. 10x objektīva korekcija
Metalogrāfiskā mikroskopa pielietošanas procesā 10x objektīva lēca ir standarta kopējā objektīva lēca fokusēšanas darbā. Sākumā tas ir no 10x objektīva uz mazāka palielinājuma objektīvu vai, pārejot no 10x objektīva uz lielāka palielinājuma objektīvu, krasu izmaiņu nebūs. Vēl viens aspekts ir tāds, ka zemāka palielinājuma objektīva fokusa dziļums ir garš, un novērotāja neapbruņotā redze pēc vēlēšanās neatrodas centrā, un kontakts starp paraugu un objektīvu var rasties viegli, pārslēdzoties tieši uz liela palielinājuma objektīvu. objektīvs.
10x objektīvs ir ne tikai standarta parastais objektīvs fokusēšanas darbā, bet arī daudz kas ietver praktisko darbu. Piemēram, daudzos attiecīgos valsts standartos metalogrāfiskajai pārbaudei visbiežāk ir salīdzināt atsauces standarta spektrus 100 reižu novērojuma apstākļos, un 100 reižu iegūšana notiek no 10 reizes lielāka objektīva un 10 reizes okulāra. Sākot no teorētiskās vadības, ja vien tā nav nejauša vai ļaunprātīga, turpmākajai kontroles darbībai vajadzētu būt objektīva novietošanai tuvu fokusa plaknei. Ja ir 10x objektīvs, pēc tam, kad paraugs ir pareizi novietots, attēlam jābūt izplūdušam vai pat salīdzinoši skaidram attēlam. , tikai neliela apkope un precizēšana.
2. Attiecīgā iebraukšana un izbraukšana
Runājot par fokusēšanu pēc pārejas no zema palielinājuma objektīva objektīva uz liela palielinājuma objektīvu, pašreizējā mikroskopa ražošanas procesa uzlabošanas dēļ dažādu mikroskopa objektīvu lēcu parfokālā veiktspēja ir salīdzinoši laba, jo īpaši attiecībā uz ārzemju produktiem. Novērojot, dažreiz nav nepieciešams atkārtoti fokusēties. Attēls jau ir ļoti skaidrs; varbūt, vienkārši nedaudz palieliniet objekta attālumu, un regulēšanas pakāpe noteikti nav 1-3 apļu jēdziens, tas ir, 1-3 grādu (leņķa) jēdziens, kas ir ārkārtīgi sarežģīts. daudzums.
3. Par objektīva lēcu pārveidotāju
Mainot objektīva lēcu, nespiediet objektīvu tieši ar roku, pretējā gadījumā stingrā objektīva skrūves vītne var kļūt vaļīga un optiskā ass sasvērties. Mikroskopa objektīvs un mikroskopiskās digitālās kameras sistēma ir pieskrūvēti uz objektīva lēcu pārveidotāja. Mainot dažādas objektīva lēcas, mainiet objektīva lēcu pārveidotāju, līdz ausis dzird vieglu "klikšķi" un jūt, ka pretestība strauji palielinās. Šajā laikā objektīva lēca atrodas normālā darba stāvoklī: perpendikulāri skatuves plaknei.
Iepriekš minētais saturs ir ievads metalogrāfisko mikroskopu pielāgošanā un lietošanā. Metalogrāfiskos mikroskopus īpaši izmanto, lai novērotu necaurspīdīgus objektus, piemēram, metālus un minerālus. Šos necaurspīdīgos objektus nevar novērot parastos caurlaidīgās gaismas mikroskopos. Galvenā atšķirība starp metalogrāfiskajiem mikroskopiem un parastajiem mikroskopiem ir tāda, ka pirmais tiek izgaismots ar atstaroto gaismu, bet otrais tiek izgaismots ar caurlaidīgu gaismu. Metalogrāfiskajā mikroskopā apgaismojuma stars tiek projicēts no objektīva lēcas virziena uz novērojamā objekta virsmu, atspoguļots objekta virsmā un pēc tam atgriezts objektīva lēcā attēlveidošanai. Šo atstarotā apgaismojuma metodi plaši izmanto arī integrālās shēmas silīcija plātņu noteikšanā.
