Metalurģijas mikroskopi, ko izmanto dažādās nozarēs
Pirmo reizi iegūts no metalogrāfijas, tā galvenais mērķis ir novērot profesionālo instrumentu metalogrāfisko organizāciju, to īpaši izmanto necaurspīdīgu objektu, piemēram, metālu un minerālu mikroskopa, metalogrāfiskās organizācijas novērošanai. Šos necaurspīdīgos objektus nevar novērot parastajā caurlaidīgās gaismas mikroskopā, tāpēc galvenā atšķirība starp metalogrāfiskajiem un parastajiem mikroskopiem ir tāda, ka pirmais uz atstarotās gaismas, bet otrais uz caurlaidīgās gaismas apgaismojumu.
Metalogrāfiskajam mikroskopam ir laba stabilitāte, skaidra attēlveidošana, augsta izšķirtspēja, liels un plakans redzes lauks. Tas var ne tikai veikt mikroskopisku novērošanu okulārā, bet arī novērot reāllaika dinamiskos attēlus datora (digitālās kameras) displeja ekrānā, kā arī rediģēt, saglabāt un izdrukāt nepieciešamos attēlus, kurus galvenokārt izmanto aparatūras jomās, sagriešana, IC komponenti, LCD/LED un tā tālāk.
Tā kā metalurģijas mikroskopam ir piecu veidu lēcas: EPI spilgta lauka fluorescence; BD gaišs lauks un tumšs lauks; SLWD īpaši liels darba attālums; ELWD palielināts darba attālums; ar korekcijas gredzenu. Aparatūras nozarē ir dažas aparatūras, pārdomas ir nopietnākas, novērošanai varat izvēlēties BD spilgta lauka un tumšā lauka objektīvu. Vēl viens piemērs, LCD nozarē, vadošo daļiņu novērošanā un mērīšanā, metalurģisko mikroskopu var aprīkot arī ar DIC, kas var padarīt objektu redzamāku trīsdimensiju. Jo tas ir ar polarizētu gaismu, diviem filtru komplektiem, polarizētās gaismas mikroskopa novērošanas tehnoloģijas veidošanās, atbilstoši divkāršās laušanas īpašībām, virziena maiņa gaismas ceļa virzienā, protams, polarizēta tikai ar DIC izmantošanu, atsevišķi ir maza nozīme. Metallogrāfiskais mikroskops tiek izmantots IC komponentu, metalogrāfisko sekciju un citu mikroizmēru mērīšanai un analīzei, kad. Var izmantot viedo programmatūru Iview-DIMS mērījumus, augstu precizitāti, efektīvi samazina cilvēka kļūdas mērījumos. Viegli iemācīties un lietot, var viegli sasniegt punktu, līniju, loku, pusvelku, taisnu deformāciju, leņķi un citus saistītos ** mērījumu un analīzes izmērus, viegli uzņemt mērījumu attēlus un pielāgot dažādus testa ziņojumus.
