Jaunajam enerģijas transportlīdzekļa testēšanas multimetram, veicot mērījumus, jāpievērš uzmanība šādiem punktiem
(1) Jaunajam enerģijas transportlīdzekļa testēšanas multimetram jābūt ar pietiekami lielu iekšējo pretestību, kas ir vismaz 10 reizes lielāka par pārbaudāmās ķēdes pretestību, lai neradītu lielas mērījumu kļūdas.
(2) Mēra pildspalvai vai zondei jāveic pretslīdes pasākumi. Tā kā jebkurš momentāns īssavienojums var viegli sabojāt integrālo shēmu. Lai novērstu pildspalvveida pilnšļirces slīdēšanu, var izmantot šādu metodi: paņemiet velosipēda vārsta serdes daļu uz pildspalvas gala un izvelciet no pildspalvas gala apmēram 0,5 mm, kas ne tikai nodrošina pildspalvas galam labu kontaktu ar pārbaudāmo galu, bet arī efektīvi novērš slīdēšanu, pat ja tas pieskaras blakus esošajiem punktiem, netiks izveidots īssavienojums.
(3) Ja mēra kontaktu spriegumu, kas neatbilst normālajai vērtībai, tas jābalsta uz kontaktu spriegumu, lai integrētu shēmu normālai darbībai nebūtu būtiskas ietekmes, un citiem kontaktu spriegumiem ir atbilstošas izmaiņas analīzē, lai noteiktu labas un sliktas integrālās shēmas.
(4) IC tapas spriegumu ietekmēs perifērijas komponenti. Ja perifēro komponentu noplūde, īssavienojums, atvērta ķēde vai vērtības izmaiņas, vai perifērijas ķēde ir savienota ar mainīgas pretestības potenciometru, potenciometra bīdāmā roka atrodas citā pozīcijā, mainīs tapas spriegumu.
(5) Ja integrālās shēmas kontaktu spriegums ir normāls, integrālo shēmu parasti uzskata par normālu; ja tapas sprieguma integrālās shēmas daļa ir nenormāla, tai jābūt no novirzes no normālās vērtības zui liela vieta, kur sākt, pārbaudiet perifērijas komponentus ar vai bez kļūmes, ja nav kļūmes, tad visticamāk, ka integrālā shēma tikt bojātam.
(6) dinamiskām uztveršanas ierīcēm, piemēram, televizoriem, ja nav signāla, integrālās shēmas kontaktu spriegums ir atšķirīgs. Ja konstatējat, ka lielu izmaiņu vietā kontaktu spriegumam nevajadzētu mainīties, izmaiņu vietā signāla izmērs un regulējamās sastāvdaļas ar dažādām pozīcijām un izmaiņām, varat noteikt integrālās shēmas bojājumus.
(7) dažādiem ierīces darbības režīmiem dažādos darbības režīmos arī integrālās shēmas tapu spriegums ir atšķirīgs.
