Universālā instrumenta mikroskopa kopējās mērīšanas metodes
1. Naža griešanas metode un aksiālās griešanas metode:
Griešanas mutes metode un aksiālā griešanas metode ir sava veida optiskās un mehāniskās sintēzes metode, galvenokārt mērot vītnes aksiālo griešanas virsmu, šo metodi var izmantot arī cilindrisko, konisko un plakano paraugu mērīšanai, jo regulēšanas kļūda ir ļoti maza. un nav pakļauts ārējai ietekmei. Piemēram, mala nav pulēta, noapaļots vāks un tā tālāk. Šīs mērīšanas metodes nosacījums ir tāds, ka paraugam jābūt gludai, plakanai mērīšanas virsmai, un mērnazis tiek turēts pret paraugu ar roku, kas mērīšanas plaknē saskaras ar paraugu. Apaļajiem gabaliem šī mērīšanas plakne ir pieskares rotācijas asij, un tieva līnija, kas ir paralēla griezēja malai, norāda testa parauga aksiālo griezumu. Smalkā līnija ir saskaņota ar leņķa mērīšanas okulāra atskaites atzīmi. Nenolietotās izgriezuma mala ir saskarē ar izlīdzināšanas asi caur krustpunktu redzes laukā, un attālums no smalkās līnijas līdz izgriezuma malai mērījumā nav jāņem vērā; tikai tad, ja mērījums tiek veikts ar nolietotu izgriezumu, no izmērītās vērtības ir jāatņem rievas kļūda. Šeit ir jāpievērš uzmanība: putekļiem un šķidruma atlikumiem uz pārbaudes virsmas, pārbaudot rievas pozīciju atbilstoši gaismas spraugai, šķidruma atlikumi radīs kļūdas. Paliktnis un instruments ** augstums ir saskaņots, nevar noregulēt nepareizi, pirms lietošanas iztīrīt.
2, ēnu metode:
Aizēnojuma metode ir tikai optiska, tā var ātri pielāgot instrumentu, lai izlīdzinātu parauga kontūru un salīdzinātu formu. Šī mērīšanas metode paredz, ka paraugs jānovieto augšupvērstā gaismas ceļā un izlīdzināšanas mikroskopa skaidrā diapazonā, lai parauga attēls būtu ēnā. Apaļas sagataves attēls ir aksiālās plaknes kontūras ēna, bet plakana parauga ēnas attēlu nosaka tā malas. Mērījumu veic, uzliekot rotējošu okulāru un leņķa mērīšanas okulāru ar iegrieztu līniju, kas pieskaras ēnai. Salīdzinot parauga formu ar pašzīmēto figūru, varat izmantot projekcijas ierīci un izmantot binokulāro novērošanu.
3, refleksijas metode:
Atstarojošā metode ir arī optiskā kontakta metode, atstarojošo metodi raksturo malu un marķējumu mērīšana, piemēram: uzraksts, parauga perforatora acs utt. Šo metodi var izmantot arī, lai pagrieztu iegravētās līniju grafikas okulāru, lai salīdzinātu formu. . Mērījumu plakni nosaka no mikroskopa skaidrās plaknes. Šo mērīšanas metodi galvenokārt izmanto plakaniem paraugiem. Ierakstīšanas un parauga caurumošanas acs mērīšana ar leņķa mērīšanas okulāru, cauruma malas mērīšana ar dubultā attēla okulāru, salīdziniet okulāra formu ar rotējošu okulāru.
4, mikroskopiskās sviras metode
Mikrometriskās sviras metodi nevar izmantot optiski izlīdzinātu mērīšanas virsmas mērījumu, piemēram, caurumus, dažādas izliektas virsmas un spirālveida virsmas, kur īpaša uzmanība tiek pievērsta kontakta vai saskares virsmu relatīvajam virzienam, kad mērīšanas galviņas diametrs. jāiekļauj arī mērījumu rezultātos. Īpašiem mērījumiem ieteicams izgatavot piemērotus kontaktstieņus. Sfēriskas mērgalvas ar noteiktu diametru izmanto, lai pārbaudītu rites līknes, un smailas mērgalvas izmanto, lai pārbaudītu spirālveida virsmas noteiktā mērīšanas virsmā. Mērgalvas ar nazi tiek izmantotas, lai mērītu pieskares virsmas un telpas līkņu projekcijas tikai ar divām asīm.
