Atšķirības lietošanai starp vertikāliem un apgrieztiem metalogrāfiskiem mikroskopiem
Atšķirība starp taisnu un apgrieztu ir vienkārši tā, ka vertikālais paraugs ir novietots zemāk un apgriezts paraugs ir novietots virs. Vertikālais objektīvs ir vērsts uz leju, un apgrieztā objektīvs ir vērsts uz augšu.
Apgrieztu metalogrāfisko mikroskopu parasti izmanto rūpnīcas laboratorijās, zinātniskajās pētniecības iestādēs un universitātēs, jo parauga novērošanas virsma sakrīt ar darba galda virsmas virsmu, un novērošanas mērķis atrodas zem darba galda, novērojot uz augšu. Šo novērošanas formu neierobežo parauga augstums, un, gatavojot paraugu, tikai viena novērošanas virsma ir līdzena. Apgrieztā metalogrāfiskā mikroskopa pamatnei ir liela atbalsta zona, zems gravitācijas centrs, un tā ir stabila un uzticama. Okulāra un atbalsta virsma ir noliekta 45 grādos, lai nodrošinātu ērtu novērošanu.
Vertikālajam metalogrāfiskajam mikroskopam ir tādas pašas pamatfunkcijas kā apgrieztajam metalogrāfiskajam mikroskopam. Papildus metāla paraugu analīzei un identificēšanai ar 20-30 mm augstumu, to plašāk izmanto caurspīdīgām, daļēji caurspīdīgām vai necaurspīdīgām vielām, jo tā atbilst cilvēka ikdienas ieradumiem. Vertikālais metalogrāfiskais mikroskops novērošanas laikā rada pozitīvu attēlu, kas ievērojami atvieglo lietotāja novērošanu un identifikāciju. Papildus metāla paraugu analīzei un identificēšanai ar 20-30 mm augstumu, novērojot mērķus, kas lielāki par 3 mikroniem un mazāki par 20 mikroniem, piemēram, metāla keramika, elektroniskās mikroshēmas, iespiestas ķēdes, LCD substrāti, plēves, šķiedras, granulas priekšmeti, pārklājumi un citi materiāli, var sasniegt labus attēlus uz virsmas struktūrām un pēdām.
