Metalogrāfisko mikroskopu pielietojumi dažādās rūpniecības nozarēs
Metalogrāfiskie mikroskopi vispirms tika iegūti no metalogrāfijas. To galvenais mērķis ir novērot metalogrāfiskās struktūras, padarot tos par specializētiem instrumentiem, kas paredzēti tikai necaurspīdīgu objektu, piemēram, metālu un minerālu, metalogrāfisko struktūru pārbaudei. Šos necaurspīdīgos objektus nevar novērot parastos caurlaidīgās gaismas mikroskopos; tāpēc galvenā atšķirība starp metalogrāfiskajiem mikroskopiem un parastajiem mikroskopiem slēpjas faktā, ka pirmais izmanto atstaroto gaismu apgaismojumam, bet otrais paļaujas uz pārraidīto gaismu.
Metalogrāfiskos mikroskopus raksturo lieliska stabilitāte, skaidra attēlveidošana, augsta izšķirtspēja un liels, plakans redzes lauks. Papildus mikroskopiskai novērošanai, izmantojot okulāru, tie var arī parādīt{1}}reāllaika dinamiskus attēlus datora (vai digitālās kameras) ekrānos. Nepieciešamos attēlus var rediģēt, saglabāt un izdrukāt, izmantojot primāros lietojumus tādās jomās kā aparatūra, metalogrāfiskās sadaļas, IC komponenti un LCD/LED ražošana.
Metalogrāfiskie mikroskopi ir aprīkoti ar piecu veidu objektīviem: EPI Brightfield Fluorescence, BD Brightfield/Darkfield, SLWD (Super Long Working Distance), ELWD (Enhanced Long Working Distance) un objektīviem ar korekcijas apkakli. Aparatūras nozarē aparatūras daļām ar spēcīgu atstarošanu novērošanai var izvēlēties BD Brightfield/Darkfield objektīvus. Piemēram, LCD nozarē, novērojot un mērot vadošās daļiņas, metalogrāfiskos mikroskopus var aprīkot ar DIC (diferenciālo traucējumu kontrastu), lai iegūtu vairāk trīsdimensiju attēlu. DIC izmanto polarizācijas tehnoloģiju{4}}pārī savienoti polarizācijas filtri veido polarizētu mikroskopisku novērošanas sistēmu. Pamatojoties uz objektu dubultlaušanas īpašībām, tas virza optisko ceļu. Tomēr polarizācijai ir nozīme tikai tad, ja to lieto kopā ar DIC; tas nekalpo tikai praktiskiem mērķiem. Ja metalogrāfiskos mikroskopus izmanto mikro-izmēra objektu, piemēram, IC komponentu un metalogrāfisko sekciju, mērīšanai un analīzei, var izmantot viedo programmatūru Iview-DIMS.
Šī programmatūra piedāvā augstu precizitāti, efektīvi samazinot cilvēka mērījumu kļūdas. Tas ir viegli apgūstams un lietojams, ļaujot precīzi izmērīt un analizēt attiecīgos izmērus, piemēram, punktus, līnijas, lokus, rādiusus, diametrus un leņķus. Tā atbalsta arī vienkāršu mērījumu attēlu uzņemšanu un dažādu testu ziņojumu pielāgošanu.
