Pieejamie mikroskopa apgaismojuma diapazoni
Papildus manuālajiem modeļiem mikroskops ir pieejams arī ar jauno motorizēto universālo apgaismotāju klāstu. Baltais LED apgaismojums ir piemērots spilgta lauka novērošanai. Lietotāji var izvēlēties 12V50W halogēna lampu vai baltu LED gaismas avotu atbilstoši novērošanas mērķim un darbam.
Mikroskops LV-UEP1 universālais epi-izgaismotājs, šis universālais epi-gaismotājs var veikt arī spilgtu lauku, tumšu lauku, vienkāršu polarizētu gaismu un DIC novērošanu. Apgaismotājs automātiski atver lauka un diafragmas diafragmas, pārslēdzoties no gaišā lauka uz tumšā lauka novērošanu. Atgriežoties pie gaišā lauka, apgaismotājs automātiski atjauno iepriekšējos lauka un diafragmas apstākļus.
Mikroskops LV-UEP2 universāls epi-gaismotājs, papildus spilgtajam laukam, tumšajam laukam, vienkāršai polarizētai gaismai un DIC, šis apgaismotājs var veikt arī epifluorescences novērošanu. Apgaismotāja saistītā struktūra ar aizvaru, redzes lauku un diafragmas diafragmu automātiski nosaka optimālos apgaismojuma apstākļus. Šī funkcija samazina mērīšanas mikroskopa darbības sarežģītību, ļaujot lietotājam koncentrēties uz novērošanu.
Mikroskops LV-UEP1 FA universālais epi-illuminatora fokusa palīgs, šis universālais epi-izgaismotājs ir aprīkots ar izvēles dihromiskās prizmas FA fokusa mehānismu, lai nodrošinātu labāku skaidrību, veicot mērījumus pa Z asi.
Mikroskopa metalogrāfiskā mikroskopa mērīšanas programmatūras analīze
1) Programmatūra nodrošina horizontālās līnijas, vertikālās līnijas, diagonālās līnijas, apļus un citas mezglu mērīšanas metodes, lai izmērītu graudu izmēru. Tas var automātiski noteikt ātru graudu robežu mērīšanu un aprēķinu, kā arī var izvēlēties manuālas vai automātiskas mērīšanas metodes. Mērījumu datus var statistiski analizēt, un pēc tam produkciju var eksportēt uz Excel atskaiti.
2) Palīdziet lietotājiem analizēt un izmērīt metalogrāfiskās sferoidizācijas ātrumu, izmantojot tādus parametrus kā apaļums, laukums un forma
3) Platību un platības procentus var aprēķināt pēc izvēlētā metalogrāfiskā materiāla kategorijas
4) To var izmantot arī, lai analizētu porainu materiālu virsmas porainību vai noteiktu poru izmēru un laukumu
5) Lai pārvarētu liela palielinājuma objektīva un skaitliskās apertūras ierobežojumus, mazais vertikālais lauka dziļums un vertikālā augstuma atšķirība padara metalogrāfisko virsmu
neskaidra problēma
